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  • 量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100
    量子效率測(cè)量系統(tǒng) QE-2100

    測(cè)量精度高可瞬間測(cè)量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子收率)可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)

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  • 膜厚量測(cè)儀 FE-300
    膜厚量測(cè)儀 FE-300

    薄膜到厚膜的測(cè)量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無(wú)復(fù)雜設(shè)定,操作簡(jiǎn)單

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  • 膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700
    膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700

    可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。

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  • 線(xiàn)掃描膜厚儀(離線(xiàn)型)
    線(xiàn)掃描膜厚儀(離線(xiàn)型)

    ●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè)●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量(已取得專(zhuān)zhuan利)●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量(500萬(wàn)點(diǎn)以上/分)

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  • 線(xiàn)掃描膜厚儀(在線(xiàn)型)
    線(xiàn)掃描膜厚儀(在線(xiàn)型)

    ●采用線(xiàn)掃描方式檢測(cè)整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量(已獲取專(zhuān)zhuan利)●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量●不受偏差影響●可對(duì)應(yīng)寬幅樣品(TD方向最大可測(cè)量...

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  • 紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
    紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)

    ●通過(guò)分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開(kāi)度、光束光通量●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測(cè)...

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  • 紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New
    紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New

    ●該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì),在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過(guò)程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果?!窀采w從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的寬波長(zhǎng)范圍●帶軟件的樣品照明電源,測(cè)量?jī)x器批量控制●LIV測(cè)量,脈沖點(diǎn)測(cè)量,樣品溫...

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  • 紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)
    紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng)

    ●具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍●具有紫外線(xiàn)自吸收校正的高精度測(cè)量●配備溫度控制單元,可從-110°C進(jìn)行溫度控制●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●電源、溫控單元、測(cè)量?jī)x軟件批量控制

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  • 相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New
    相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New

    采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

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  • 液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series
    液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series

    采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策,可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

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  • 橢偏儀 FE-5000/5000S
    橢偏儀 FE-5000/5000S

    ●可在紫外和可見(jiàn)(250至800nm)波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù)●可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度●可以通過(guò)超過(guò)400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜●通過(guò)可變反射角測(cè)量,可詳細(xì)分析薄膜●通過(guò)創(chuàng)建光學(xué)...

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  • 總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series
    總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series

    ●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測(cè)量●測(cè)量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測(cè)器,可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量●測(cè)量部分的尺寸(積分球或積分半球)從φ25...

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