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當前位置：首頁 > 產品中心 > 光譜系統(tǒng) > 顯微缺陷膜厚 > 膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700
簡要描述：可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：178產品中心
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詳細介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有機EL
有機EL / ITO / 玻璃
PDP
介電層/玻璃
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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