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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 光譜系統(tǒng) > 顯微缺陷膜厚 > 線掃描膜厚儀（離線型）
簡要描述：●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測量（500萬點(diǎn)以上/分）
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-08訪 問 量：229產(chǎn)品中心
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| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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250mm寬的薄膜案例
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