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  • SIRM紅外體微缺陷分析儀

    SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。 這個技術也可對GaAs 和 InP等復合材料進行測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產(chǎn)廠家
  • LST體微缺陷測試設備

    LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質：生產(chǎn)廠家
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