產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試體微缺陷測(cè)試
產(chǎn)品分類(lèi)
SIRM是非接觸和非破壞型光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，對(duì)體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯(cuò)、堆垛層錯(cuò)，體材料中的滑線和空隙等進(jìn)行測(cè)試。 這個(gè)技術(shù)也可對(duì)GaAs 和 InP等復(fù)合材料進(jìn)行測(cè)試。
更新時(shí)間：2025-06-24
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：993
LST是檢測(cè)半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過(guò)CCD相機(jī)，對(duì)入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
更新時(shí)間：2025-06-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：844公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號(hào)E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
相關(guān)文章