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當(dāng)前位置：首頁  >  產(chǎn)品中心  >  半導(dǎo)體材料測試  >  半導(dǎo)體多功能測試

  • 少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)

    WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-2000半導(dǎo)體多功能測試

    WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測試。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • WT-1200A 單點式少子壽命測試系統(tǒng)

    WT-1200A 是單點式少子壽命測試系統(tǒng)，具備無接觸等優(yōu)點。

    更新日期：2024-11-08
    型號：
    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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