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SIRM紅外體微缺陷分析儀

簡要描述:SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設(shè)備,對體微缺陷,如氧化物和金屬沉淀,位錯、堆垛層錯,體材料中的滑線和空隙等進行測試。

這個技術(shù)也可對GaAs 和 InP等復合材料進行測試。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:157

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詳細介紹

品牌波銘科儀價格區(qū)間面議
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合

Capability:

  • 無需制樣

  • 最小測試缺陷尺寸10nm

  • 測試缺陷濃度范圍:105-109cm-3

  • 可做外延片測試

  • 測試樣品最大尺寸300mm

SIRM紅外體微缺陷分析儀 SIRM紅外體微缺陷分析儀








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。


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