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非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)

簡(jiǎn)要描述:LEIModel1605,是非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng),可對(duì)各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。無需制樣,消除了樣品制備引起的遷移率變化。

  • 產(chǎn)品型號(hào):LEIModel1605
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-08
  • 訪  問  量:131

推薦產(chǎn)品

詳細(xì)介紹

品牌波銘科儀價(jià)格區(qū)間面議
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合

Capability:

  • 快速,非破壞

  • 霍爾遷移率

  • 方塊電阻

  • 提高測(cè)試的重復(fù)性

  • 與VDP法測(cè)試保持一致

非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)








上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。



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