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當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導體材料測試 > 橢偏拉曼AFM > 原子力顯微鏡
簡要描述：原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：155
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| 品牌 | 波銘科儀 |
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Surface topography 表面形貌
Electrical properties 電學性質(zhì)
Chemical properties 化學性質(zhì)
Magnetically properties 磁學性質(zhì)
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