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光譜型橢偏儀

簡要描述:光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統(tǒng),適合各種薄材料的研究。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-11-08
  • 訪  問  量:218

推薦產品

詳細介紹

品牌波銘科儀

Different tools:

  • SE-2xxx-全自動測試平臺

  • SE-1100-適于測試柔性村底材料

  • IRSE-紅外光譜型橢偏儀

  • EP-橢偏測孔隙率

  • SE-1000-低成本手動測試平臺

  • LE-103PV-激光型橢偏儀

Application:

Photonics:

  • LED, AIGaN, GaN, InP, GaAs

  • Reflective Coatings, ARC, ll-V devices(EEL, VCSEL, ECL)

  • MEMS

  • Sol-Gel.

Photovaltage

  • Thin films and silicon solar cell, Nanostructure Cells

  • Transparent conductive oxide, Nano dots, Nanowires, CNT

Organics:

  • OLED.OPV.Sensors. OTFT

Semiconductors:

  • High-k, Gate Oxide , Nitride oxide , Low-k

  • Interconnects . Lithography thin films

  • Epi-layers :SOl,SiGe ,Strained Si. SiC, Poly

Flat Panel Displays:

  • TFT-LCD.LTPS.IGZO,OLED, electrochromic layers

General:

  • Ferroelectric materials(BST.SBT.PZT

  • Fuel Cells .SOFC ,Porous electrode

  • Graphene

  • 3D materials , periodic structures








上海波銘科學儀器有限公司成立于 2013 年,是一家專注于光學電學領域的創(chuàng)新型公司。我們致力于通過技術和服務為客戶提供優(yōu)質的產品和服務,滿足不斷變化的市場需求。


上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場地位和影響力。



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