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簡要描述：該檢測器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：163產(chǎn)品中心
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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該檢測器
是一種高性能的分光光度計(jì)，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項(xiàng)成果。
覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制
LIV測量，脈沖點(diǎn)測量，樣品溫控測量
設(shè)備校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準(zhǔn)公司注冊。
照度、輻照度
光譜數(shù)據(jù)（光譜輻照度）
其他測量項(xiàng)目
三刺激值 XYZ、色度坐標(biāo) xy、uv、
u’v’相關(guān)色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數(shù) Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
實(shí)時測量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
實(shí)時測量
寬度方向品質(zhì)管理
超硬涂層的膜厚解析
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