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簡要描述：漫反射率測試系統(tǒng)光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）,漫反射率測試系統(tǒng)光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
產(chǎn)品型號：S-MRS系列廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-07訪 問 量：1563
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S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)應用：
• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設置
• 波長準確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
• 光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
S-MRS系列漫反射率測試系統(tǒng)特點
• 光譜測量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設置
• 波長準確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）
• 光度測量準確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）
• 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm) ；測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm
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